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Photovoltaique


Développement d'un équipement de mesure de la qualité des plaquettes de Silicium monocristallin

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Les équipes du CEA à l'INES ont développé avec AET Technologies un équipement permettant d'estimer automatiquement la qualité des plaquettes monocristallines.
Cet équipement appelé « OxyMap » permet de détecter les principaux défauts des plaquettes, liés à la présence d'Oxygène, via une succession de mesures de résistivité (résistance au passage de courant) et de recuits (entre 400 et 800°C).
Ce projet est l'aboutissement d'une thèse, de plusieurs brevets/publications et d'études de marché effectués entre 2011 et 2014 (Cf. bulletin n°17/septembre 2011). La rencontre en 2012 avec le partenaire isérois AET Technologies, concepteur et fabricant de fours et d'équipements thermiques standards ou spécifiques, a permis de concrétiser ce projet via la conception et la réalisation d'un premier équipement prototype (voir photo) .
L'équipement a été installé à l'INES sur la plateforme Restaure afin d'être testé en conditions de production avec le partenaire et de lancer les premières démonstrations commerciales.
Une version à chargement manuel a également été développée afin d'adresser les besoins des équipes R&D des fabricants de wafers et cellules photovoltaïques. Cette version sera disponible à la vente dès Janvier 2015.

 

 

 

 

 


 

 

Gamme standard:
Eléments chauffants pour l'industrie du photovoltaïque

 

Tags: Photovoltaique

 
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